将METKIT子产品添加到核心PLATO平台，并使用高脉冲速率、高精度编码器进行变数器误差（TE）测试。
为了达到最高精度，分析整个搜索（“过度滚动”）周期，如果循环时间强行规定，则在较短的时间内进行分析。
以您选择的格式报告结果
TE可以以角度（微弧度）或齿轮节圆半径的周向距离（微米）报告。
提供峰-峰值和有效值，参考主动或从动齿轮。
用于带差动齿轮产品的复合（3 编码器）分析
轻松调整包含差动机构（两个输出）的产品。
TE顺序频谱分析
将TE分解成顺序组件，以增加诊断功能或在被测产品包含多个齿轮副时提供齿轮副的特定信息。
平均齿TE
非常适合识别选定齿轮上的每个齿如何与啮合的所有齿的平均值啮合。
轻松集成到测试设备
PLATO和测试设备之间的简单OPC通信使集成变得轻而易举，并且作为标准，National Instruments™ 的计数器/定时器DAQ卡可使其成为极具成本效益的TE测试解决方案。
与动态齿间隙和/或NVH测试相结合
PLATO及其附加子产品采用模块化设计，因此可轻松构建测试循环组合，例如NVH＆TE、NVH、齿间隙和TE测试。
清晰、精确的结果
利用PLATO直观测试报告提供TE结果，通过OPC传递给设备控制器（PLC）并存储在PLATO的结果数据库（SQL）中，同时可有选择性地传递给PLATO-服务器。
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