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相约SEMICON,NI 晒出半导体测试方案全家福

2019-03-13 16:42
全球半导体界盛会SEMICON将于2019年3月20日~22日开幕,NI作为半导体测试测量行业的引领者,将在展会上重点展出一系列创新方案,包括STS系统、ADC/DAC测试系统、5G芯片测试系统等明星产品。
 
在SEMICON邂逅NI
2019年3月20~22日
上海新国际博览中心
展位号:N1馆1618号
 
SEMICON开展在即,先来细数NI将展出的吸引力指数爆表的产品。
 
01、NI半导体测试平台
覆盖从实验室验证到量产测试的全流程:
02、Talos实验室工程Handler
该实验设备具有以下特点:
03、NI 半导体测试系统STS
NI的半导体测试系统 (Semiconductor Test System, 简称STS) 提供了可快速部署到生产的测试系统,适用于半导体生产测试环境(实验室验证、晶圆级测试、FT测试等)。此外,PXI平台开放式与模块化的设计,使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源,进一步提升半导体测试效率,降低测试成本。
 
04、基于PXI的ADC/DAC测试方案
 
高性能仪器同步

交互式软件体验
可扩展标准工业平台
05、电源管理芯片性能测试
NI特有的高性能源表(Source Measurement Unit),满足电源管理芯片对于精度、测量速度的要求。使用ATE级别的数字模式仪器(Digital Pattern Instrument),利用数字模式编辑软件,轻松完成数字测试,并且Pattern 和代码均可复用在量产测试中。
电源管理芯片功能集成度越来越高,除了DC/DC转换电路,还可能包含RF,USB,LDO等模块,利用PXI平台的模块化架构,可以使用同一平台应对不同功能PMIC的测试需求,大幅度降低测试设备投入成本,开发成本及学习成本。

06、最新5G射频芯片测试方案
NI自5G原型阶段深度参与,和业界射频领先用户合作,通过NI软硬件平台实现大规模天线、毫米波频段等5G重点方向的原型平台设计。NI以软件为中心的模块化仪器,在5G芯片商用化的今天充分保证最新5G标准RFIC的测试要求。
07、 I2C,SPI验证方案
除了以上展品,您还能在NI的众多partner展位上看到NI的其他产品(非常多,到了现场就知道了)。 

来源:恩艾NI

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