如今，光器件正朝着更小、更精细的方向发展，内部结构日益精细，元件结构间隔以毫米甚至微米计。这迫切需要一种更短距离、更高精度的测量方法。
横河公司最新力作——AQ7420高分辨率反射仪应运而生！它不仅能满足当今通信系统中光器件体积小、损耗低的要求，还能深入剖析其内部的微观结构，助力失效分析、优化设计和工艺改善。
本文将结合不同的测试需求以及设备特点为您进一步介绍这款新品的优势。
为什么选用OLCR技术？01 基于低相干光源的工作原理OLCR，即低相干光学反射仪，利用光的干涉特性进行测量，高分辨率、高动态范围是其显著特点。其结构较为简单，理论分辨率由光源相干长度决定，测量精度可达到微米级，正适合小尺寸集成光器件的高分辨率测量。
OLCR的核心是低相干长度的光源和迈克尔逊干涉仪，设备通过利用器件内部反射信号与原始信号对器件进行干涉扫描。因为设备采用了低相干光源，且相干时间很短，所以参考光只能与相干长度内的反射光发生干涉，故而能使测量达到很高的分辨率。
相比OFDR类反射仪，OLCR技术更加稳定可靠。OFDR依赖内部的扫频激光器，但由于激光器的频率线性控制难度较大、对激光器性能和状态要求极高且信号处理复杂，因此使用OFDR测试将相对不稳定。
02 有效抑制低杂散噪声图1展示了两种测试结果的对比。在实操过程中，使用OFDR技术（TD-OCT或FD-OCT）的产品其精确度往往不尽如人意，这是因为其测试结果往往会在不应该产生背向反射的区域出现反射峰，即杂散噪声(鬼影)，此类杂散噪声的出现会显著影响分析的准确性。
图1：常规波形与AQ7420波形在
杂散噪声下的测试对比图
而AQ7420采用OLCR技术，测量过程更简洁、结果更稳定。AQ7420不仅能显著降低可能导致错误分析的杂散噪声，而且能够有效提升内部测试效果的可视化质量，降低用户的误判风险。此外，AQ7420还能以小于40μm的空间分辨率分离反射点，并以1μm的采样分辨率可视化光学元件内部的状态。
03 简化双波长测试当使用衰减法测试光连接器时，工程师们通常使用1310nm和1550nm两个波长测量背向反射和插入损耗。
传统的OFDR仅配备一种激光波长，因此用户不仅需要准备两个OFDR，而且还需要花费时间精力更换设备和待测器件。
而AQ7420可内置两个光源，用户无需改变连接器即可测量，大大简化了双波长测试流程。
AQ7420产品功能大揭秘01 微裂纹的检测AQ7420以可视化为突破口，精准捕捉光器件制造中的微裂纹缺陷，确保产品质量。
在光器件制造中，可能会存在无法被标准检查发现的“微裂纹”缺陷，这种“漏网之鱼”将会在光网络安装后因环境变化而“原形毕露”，最终导致光纤断裂，引发光网络的严重故障。
面对这一潜藏的“高危份子”，AQ7420高分辨率反射仪以可视化为突破口，通过在制造阶段随时检查内部结构情况，便于用户跟踪监测微裂纹细节，是检测高质量光学连接器的杀手锏。
在如图2所示，AQ7420可以高精度检测光连接器内部反射的数量和位置，还能显示衰减测量法难以获取的光连接器内部的微小裂纹和应力情况。
图2：AQ7420对光连接器的测试
02 光器件内部结构测试通信、传输业务的不断发展促使着人们对传输速率提出了更高的要求。AQ7420关键参数亮眼：测量长度100mm，采样分辨率1μm，空间分辨率<40μm，杂散噪声-100dB。它轻松应对光器件内部结构测试挑战，促进研发应用。
测量长度: 100mm
用户可通过AQ7420距离调整器，自由改变测试目标位置，且无需担心器件长度超过测量长度。
采样分辨率：1um；空间分辨率: <40μm
杂散噪声: －100dB
使用OFDR原理的反射仪，用户经常会在没有实际反射的区域中观察到波形（此类波形被称为杂散噪声或鬼影）。此时工程师们需借助可靠高效的专业设备才能在波形分析中排除干扰，而AQ7420能显著降低此类杂散噪声，使波形分析更为便捷。
多次反射和插入损耗的同时测量
OFDR型反射仪经常会使用户陷入背向反射值测量不准确的尴尬处境。但在横河AQ7420与光功率探头AQ740023的强强联合下，这一难题将不复存在，它可以同时测量连接器的回波损耗和插入损耗，并将不确定度控制在±0.02dB以内。
图3：光接收模块测试图暨低杂散噪声展示图
用户可在图3的基础上结合可选的光功率探头，同时测量插入损耗，不断丰富AQ7420的功能，使其成为检测光连接器和光模块的理想仪器。
AQ7420的适用场景
研发、制造光连接器、光模块的企业
在可视化光学连接器制造过程中，使用AQ7420能有效避免测试中所出现的微裂纹和产品缺陷，确保产品质量。
从事前沿硅基光子学和光学元件研究的单位
AQ7420可通过精确测量硅光器件中的反射位置和反射值，识别测试异常区域，以此促进研究。
从事光学元件研发和制造的单位
AQ7420可通过测量内部光学元件（如透镜、滤光片和芯片）之间的距离及其在光收发器、TOSA、ROSA、BOSA、光纤激光器等中的反射率检测到测试异常。
研究或使用各种光波导的公司
AQ7420可通过测量波导和光纤耦合部分的反射率和反射点之间的距离，确认组件是否有任何异常。
综上，横河新品AQ7420型高分辨率反射仪是一款可以有效帮助光器件研发工程师实现可视化内部结构、解决微观缺陷、进行失效分析、改善设计方案和工艺细节的测试设备，相信它一定会成为您的最佳助手，赶快体验吧！
来源：横河测试测量
